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晶硅电池隐裂检测

主要用于硅片来料隐性裂纹等缺陷的检测

产品型号：LPsolar-SC100


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技术参数
产能 ≥3600片/小时
最高检测精度 150μm
设备有效时间 99%
破片率 <0.05%（传输剔除）
重复性 99.85%
电压 220V AV
功率 ≤1000W
产品优势
  • 一体化隐裂碎片检测模块
  • 全定制光学系统（售价更低，性能更好）
  • 高效AI算法（算法时间100ms以内）
缺陷图例

  • 隐裂缺陷-1

  • 隐裂缺陷-2

  • 隐裂缺陷-3

  • 隐裂缺陷-4

  • 隐裂缺陷-5

  • 隐裂缺陷-6

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